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Das Interferenzmikroskop eignet sich für Rautiefenunterschiede von ca. 2 µm.
Interference microscopes are suitable for peak-to-valley height differences of approx. 2 µm.
Durch Lichtinterferenz kann ein Höhenschichtlinienbild von spiegelnden und zu rauen Oberflächen erstellt werden.
Doch es gab immer noch störende Nachschwingungen nach dem Bewegungsende.
Eine Stoßstelle der Welle würde die empfindliche Kugelmechanik zerstören.
In ruhiger Arbeitsumgebungen würden diese Quitschgeräusche erheblich stören.